1. 參與數模混合芯片DFT需求討論，并負責芯片測試方案和測試用例制定；
2. 制定并優(yōu)化芯片測試驗證的標準、模板、流程規(guī)范和Checklist等；
3. 能夠根據測試需求組建測試平臺，搭建測試環(huán)境；
4. 參與回片測試動作執(zhí)行，及時輸出測試報告，并協(xié)同設計團隊進行失效分析和改進；
5. 參與開發(fā)芯片ATE測試方案，對針卡、測試機、相關代碼等軟硬件進行開發(fā)調試。

任職要求：

1. 微電子、集成電路及相關專業(yè)本科及以上學歷，具備扎實的模擬電路、數字電路和半導體理論基礎；
2. 有3年以上芯片測試經驗者優(yōu)先；有ATE設備操作、應用者優(yōu)先；
3. 熟練使用高速示波器、信號發(fā)生器、誤碼儀、頻譜儀等相關測試儀表；
4. 熟悉光通信相關協(xié)議優(yōu)先；
5. 熟悉C/C++/Python或者其他類編程語言；
6. 對芯片測試具有濃厚興趣，工作認真負責，可以在潔凈室持續(xù)工作；具有較強的自主學習能力、良好的團隊合作意識和奮斗精神。